Allgemeine Werkstoffeigenschaften
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AFM Dimension 3100
Thema: Mikroskopie und Analyse
Verantwortliche Mitarbeiter:
    →  Dr.-Ing. Benoit Merle
    →  M.Sc. Eva Preiß
Rastersondenmikroskop zur Untersuchung Probenoberflächen

Das Dimension 3100 AFM der Firma Bruker (ehemalig Veeco) wird eingesetzt, um Oberflächen verschiedenster Proben zu untersuchen. Dank der geräumigen Konstruktion des Geräts ist nur eine minimale Probenpräparation erforderlich. Das AFM unterstützt verschiedene Betriebsmodi: Contact, Tapping, Magnetic. Es kann deshalb eine große Auswahl von Materialien untersucht und hinsichtlich Topographie, Reibung und magnetischer Eigenschaften charakterisiert werden.

Spezifikationen
- z Verfahrweg Messkopf: 8 µm
- x-y Verfahrweg Messkopf: 100 µm x 100 µm
- x-y "Closed Loop" Regelungsschleife
- max Probenhöhe: ca. 2cm

Stand: 15.05.2014