Allgemeine Werkstoffeigenschaften
Werkstoffwissenschaften  —  Technische Fakultät  —  Friedrich-Alexander Universität  —  UnivIS
TEM/STEM Philips CM200
Thema: Mikroskopie und Analyse
Verantwortliche Mitarbeiter:
    →  M.Sc. Lisa Freund

Philips CM200 TEM/STEM





Das CM200 kann im TEM- und STEM-Modus bei Spannungen von bis zu 200kV betrieben werden. Die Bildgebung im TEM-Modus erfolgt mit einer 2k x 2k CMOS-Kamera von TVIPS. Diese zeichnet sich durch schnelle Auslesezeiten mit frame rates von bis zu 1,8 fps aus. Für kristallographische Untersuchungen stehen zwei double-tilt-Halter zur Verfügung, mit denen sich ein großer Winkelbereich abdecken lässt(α ± 40°,β ± 30°). Zusätzlich ermöglicht ein Betrieb im STEM-Modus auch analytische Untersuchungen mittels EDX. Hierbei sind quantitative Punktmessungen und qualitative Flächenscans möglich.

Stand: 23.10.2015